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您的位置：網(wǎng)站首頁(yè) > 技術(shù)文章 > 光耦參數(shù)測(cè)試儀 光耦參數(shù)測(cè)試儀型號(hào)：JFY3010A
詳細(xì)介紹
※概述:
JFY3010A光耦參數(shù)測(cè)試儀，是一種專(zhuān)門(mén)用于各種電子元件參數(shù)測(cè)試的新型多功能測(cè)試裝置。該機(jī)采用大規(guī)模MCU設(shè)計(jì),中文界面操作,大容量?jī)?nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀(guān)、性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)單、使用安全方便,電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠(chǎng)家或電子元件供應(yīng)商來(lái)料檢測(cè)。
※ 測(cè)量元件類(lèi)型:三管類(lèi)型4腳 6腳光耦
※ 測(cè)量參數(shù):
參數(shù)指標(biāo)表:
參數(shù)項(xiàng) | 測(cè)試參數(shù) | 測(cè)試條件設(shè)置 |
輸入正向壓降(VF) | 0-2.000V | 0-400MA |
耐壓(BVCEO) | 0-1200V | 0-2.000MA |
傳輸比(CTR) | 0-3000 | VCE:0-20V IC:0-2.000A |
飽和壓降(Vsat) | 0-2.000V | IF:0-400MA IC:0-2.00A |
| 輸出漏電流(Iceo) | 0-1mA | VCE=20V |
| 輸入反向漏電流(IR) | 0-1mA | VR=4V |
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